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2020.06.29
紅外線氣體分析儀的工作原理
紅外氣體分析儀是利用紅外氣體分析技術，根據被分析元件的濃度，輻射能量的吸收不同，其余的輻射能使探測器的溫度不同，運動膜兩側的壓力不同，從而產生電容探測器的電信號，從而間接測量待分析元件的濃度。
紅外線氣體分析儀是根據比爾定律制成的。假定被測氣體為一個無限薄的平面，強度為k的紅外線垂直穿透它，則能量衰減的量為：
I=I0×ekCL (比爾定律)
式中：I--被介質吸收的輻射強度；
I0--紅外線通過介質前的輻射強度；
k--待分析組分對輻射波段的吸收系數；
C--待分析組分的氣體濃度；
L--氣室長度(赦測氣體層的厚度)
對于一臺制造好了的紅外線氣體分析儀，其測量組分已定，即待分析組分對輻射波段的吸收系數k一定；紅外光源已定，即紅外線通過介質前的輻射強度I0一定；氣室長度L一定。從比爾定律可以看出：通過測量輻射能量的衰減I，就可確定待分析組分的濃度C了。
綜上所述，紅外線氣體分析儀是基于氣體對紅外光吸收的郎伯--比爾吸收定律，采用國際上最新的NDIR技術， 如電調制紅外光源、高靈敏度濾光傳感一體化紅外傳感器、高精度前置放大 電路、可拆卸式鍍膜氣室，局部恒溫控制技術等，實現不同濃度、不同氣體 （二氧化硫、氮氧化物、二氧化碳、一氧化碳、甲烷等）的高精度連續檢測。
紅外線氣體分析儀是根據比爾定律制成的。假定被測氣體為一個無限薄的平面，強度為k的紅外線垂直穿透它，則能量衰減的量為：
I=I0×ekCL (比爾定律)
式中：I--被介質吸收的輻射強度；
I0--紅外線通過介質前的輻射強度；
k--待分析組分對輻射波段的吸收系數；
C--待分析組分的氣體濃度；
L--氣室長度(赦測氣體層的厚度)
對于一臺制造好了的紅外線氣體分析儀，其測量組分已定，即待分析組分對輻射波段的吸收系數k一定；紅外光源已定，即紅外線通過介質前的輻射強度I0一定；氣室長度L一定。從比爾定律可以看出：通過測量輻射能量的衰減I，就可確定待分析組分的濃度C了。
綜上所述，紅外線氣體分析儀是基于氣體對紅外光吸收的郎伯--比爾吸收定律，采用國際上最新的NDIR技術， 如電調制紅外光源、高靈敏度濾光傳感一體化紅外傳感器、高精度前置放大 電路、可拆卸式鍍膜氣室，局部恒溫控制技術等，實現不同濃度、不同氣體 （二氧化硫、氮氧化物、二氧化碳、一氧化碳、甲烷等）的高精度連續檢測。
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